半導體冷熱沖擊試驗箱冷熱交換測試

使用安全信息:

1.請勿將試品電源接入設(shè)備電源中，否則會增加設(shè)備電源負荷。除非設(shè)備留有試品電源接口。

2.嚴禁試驗易燃、易爆、高腐蝕、強輻射物品。

3.設(shè)備通電狀態(tài)下或運行過程中請勿搬運、檢修。

1、高溫燙傷，冷熱沖擊試驗箱在做高溫試驗時箱內(nèi)溫度很高。試驗過程中或測試剛結(jié)束時，如需打開箱，開門要特別小心，切記，順著們開啟的方向行走，以免燙傷。

2、低溫凍傷，冷熱沖擊試驗箱在做低溫試驗時箱內(nèi)溫度很低。試驗過程中或試驗剛結(jié)束時，如需打開箱門要特別小心，以免凍傷。

3、高溫燙傷，冷熱沖擊試驗箱在做高溫試驗時箱內(nèi)溫度很高。試驗過程中或試驗剛結(jié)束時，如需打開箱門要特別小心，以免燙傷。

4、觸電，雖然設(shè)備具有健全的防觸電措施，但是仍然需要注意，尤其是電器控制系統(tǒng)，工作情況下，切勿觸摸電器部分。

半導體冷熱沖擊試驗箱冷熱交換測試

標準滿足：

GB/T2423.1-2008試驗A低溫試驗方法

GB/T2423.2-2008試驗B高溫試驗方法

GB-T10592-2008高低溫箱技術(shù)條件

GJB150.3-1986設(shè)備環(huán)境試驗方法:高溫試驗

GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求

場地

(1)本設(shè)備使用過程中會產(chǎn)生大量熱量。請將設(shè)備按照在通風良好的地方。

(2)請勿靠近易燃材料或易爆環(huán)境中使用本設(shè)備。

(3)請勿在強磁場和強烈振動環(huán)境中使用。