芯片測試桌上型恒溫恒濕評估試驗箱廠家臺式恒溫恒濕試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領域*的檢測設備,用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行恒定試驗的溫濕度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
型號:SMC-36PF | 瀏覽量:720 |
更新時間:2023-10-29 | 是否能訂做:是 |
芯片測試桌上型恒溫恒濕評估試驗箱廠家
性能指標:
1.溫度范圍: 室溫+10℃~150℃
2.溫度波動度: ≤±0.5℃
3.溫度均勻度:≤±2℃
4.濕度范圍:85~98%R.H
5.濕度偏差:±3%R.H
6.濕度波動:±2.5%R.H
7.精度范圍: 溫度:設定精度±0.1℃,指示精度±0.1℃,解析度±0.1℃;濕度:設定精度±1%R.H,指示精度±1%R.H,解析度±1%R.H
5.升溫速率: 1.0~3.0℃/min
芯片測試桌上型恒溫恒濕評估試驗箱廠家
執(zhí)行與滿足標準
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件;
2.GB/T10586-1989濕熱試驗箱技術條件;
3.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術條件;
4.GB/T2423.50-1999恒定濕熱試驗Ca;
5.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;
6.GB/T2423.4-2008交變濕熱循環(huán)試驗;
7.GB/T2423.34-2005溫濕度組合循環(huán)試驗。
產品技術參數(shù):
1、工作室尺寸:300*300*400mm (寬×深×高);
2、外形尺寸約:520*900*1380mm (寬×深×高);
3、溫度范圍: -40℃ ~ 150℃;
4、溫度波動度:≤±0.5℃;
5、溫度均勻度:≤±1℃;
6、溫度偏差:≤±2℃;
7、升降溫速率:
從 20~-40℃,約60min
從 20―100℃,約40min
8、濕度范圍:20%―98%R.H(AT 25℃~ 85℃)
9、濕度誤差: 2/-3%R.H(75%R.H以上),±5% R.H(75%R.H以下)
10、風速:1.7~ 2.5m/s;
以上指標均在環(huán)境溫度≤25℃,常壓,空載、無負荷條件下、距箱體內壁1/6空間內測試測得;
11、功率:約3.5Kw;
12、電源:220V±10%V;50Hz;
滿足相關標準及試驗方法:
GB/T2423.22-87Nb GJB1032-90 MIL-STD-2164/(E/C)
GB/T2423.4-93 GB/T2423.34-86 GJB150.9-86
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