微電子組件雙85試驗恒溫恒濕試驗箱可編程

高低溫測試：

高溫試驗詳細介紹：本試驗是用來確定產品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應性。試驗的嚴苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。參考的測試標準：GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2，IEIA 364， MIL-STD-810F等。

低溫試驗介紹：本試驗是用來確定產品在低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應性。試驗的嚴苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時間。參考的測試標準：GB/T 2423.1，IEC 60068-2-1，EIA 364， MIL-STD-810F等。

高低溫試驗箱介紹：本試驗是確定產品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲存、運輸、使用的適應性。試驗的嚴苛程度取決于高/低溫、駐留時間、循環(huán)數。參考的測試標準：IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5等

微電子組件雙85試驗恒溫恒濕試驗箱可編程

設備的用途：

該設備主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。

該試驗設備主要用于對產品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

溫濕度箱選擇

將被試產品（元器件、組件、部件或整機）置入氣候環(huán)境箱進行試驗時，為了保證被試產品周圍氣氛能滿足試驗規(guī)范所規(guī)定的環(huán)境條件，氣候箱工作空間尺寸與被試產品外廓尺寸之間應遵循以下幾點規(guī)定：

a 被試產品的體積（W×D×H）不得超過試驗箱有效工作空間的（20-35）（推薦選用20）。對于于30 1． 溫濕度箱容積的選擇

在試驗中發(fā)熱的產品推薦選用不大。

b 被試產品的迎風斷面積與該斷面上試驗箱工作腔總面積之比不大于（35-50）（推薦選用35）。

c 被試產品外廓表面距試驗箱壁的距離至少應保持100-150mm，（推薦選用150mm）。

控制系統(tǒng)優(yōu)勢

設備系統(tǒng)采用自主開發(fā)的溫濕度控制加模糊邏輯控制系統(tǒng)，中英文菜單式人機對話操作方式，操作參數少，操作過程簡單是本設備的特點。并具有開機自檢功能，溫度濕度線性校正,自動停機，系統(tǒng)預約定時啟動功能。具備自動組合制冷、加熱、真空等子系統(tǒng)的工況，從而保證在整個溫度范圍內的高精度控制，為了解決能耗問題該控制系統(tǒng)采用冷端調節(jié)控制方式，該控制方式獲得了國家證書并且改變整個行業(yè)的設備能耗問題。

完善的檢測裝置能自動進行詳細的故障顯示、報警，如當試驗箱發(fā)生異常時，控制器用中文漢字顯示故障狀態(tài)。同時具備歷史數據表趨勢圖及歷史故障記錄的儲存功能。同時根據用戶的需求該控制系統(tǒng)可擴展模塊通過接入以太網設備能夠具備物聯網功能模式，可以通過任何移動終端監(jiān)控設備時時運行狀態(tài)。設備管理系統(tǒng)能夠時時監(jiān)控設備各個參數和主要元器件的運行情況，這樣完善的軟件監(jiān)控系統(tǒng)屬于行業(yè)內得到用戶高度評價